采用冠層分析系統(tǒng)測(cè)量冠層數(shù)據(jù)有哪些優(yōu)點(diǎn)？

      植物冠層結(jié)構(gòu)直接影響著植物的許多生物、物理過(guò)程，比如說(shuō)光合作用、呼吸作用、蒸騰作用、碳氮循環(huán)和降水截獲等。因此測(cè)定植物的冠層結(jié)果，對(duì)于提高現(xiàn)代農(nóng)藝水平，有十分重要的意義。一般來(lái)說(shuō)測(cè)定植物冠層數(shù)據(jù)主要有兩種方法，第一種是直接測(cè)量，第二種是采用冠層分析系統(tǒng)間接測(cè)量，而現(xiàn)代農(nóng)業(yè)研究中，多是采用第二種方式來(lái)開展測(cè)量工作，那么采用冠層分析系統(tǒng)測(cè)量冠層數(shù)據(jù)有哪些優(yōu)點(diǎn)呢？

      首先來(lái)說(shuō)說(shuō)直接測(cè)量和間接測(cè)量都是如何進(jìn)行的。直接測(cè)量是通過(guò)想測(cè)定所有葉片的葉面積，再計(jì)算LAI，因要剪下全部待測(cè)葉片，多數(shù)屬于毀壞性測(cè)量，或至少會(huì)干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量，直接測(cè)量費(fèi)時(shí)、費(fèi)力。間接測(cè)量就是利用冠層結(jié)構(gòu)與冠層內(nèi)輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關(guān)系，通過(guò)冠層分析系統(tǒng)來(lái)測(cè)定植物冠層的相關(guān)數(shù)據(jù)，通過(guò)植物冠層的轉(zhuǎn)移模型來(lái)推斷LAI。

      冠層分析系統(tǒng)是通過(guò)處理影像數(shù)據(jù)文件來(lái)獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過(guò)分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測(cè)算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測(cè)量法相比，采用冠層分析系統(tǒng)測(cè)量冠層數(shù)據(jù)，可以避免直接測(cè)量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點(diǎn)，而且采用儀器進(jìn)行測(cè)量操作，具有方便快捷，不受時(shí)間限制，獲取數(shù)據(jù)量大等優(yōu)點(diǎn)，非常適合用于現(xiàn)代農(nóng)業(yè)科研研究當(dāng)中，因此目前冠層分析系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對(duì)比與發(fā)展的 研究與教學(xué)工作當(dāng)中，并在實(shí)際工作中發(fā)揮了重要的作用。